Interconnessioni VLSI ad alta velocità è il primo e unico libro nel suo genere. Si concentra su una varietà di tecniche numeriche e informatiche utilizzate per la modellazione, l'analisi e la simulazione di fenomeni che sono diventati fattori importanti nell'evoluzione della tecnologia dei circuiti integrati ad altissima velocità (VHSIC). Capitoli separati sono dedicati a: effetti parassiti come capacità e induttanze, diafonia, ritardi di propagazione e guasti indotti dall'elettromigrazione, tutti associati alle interconnessioni VLSI. Il capitolo finale discute tre tecnologie di interconnessione che potrebbero plasmare il futuro dei circuiti integrati. . Ogni capitolo è autonomo e può essere letto indipendentemente ma funziona anche come parte di una presentazione generale coerente. Vengono fornite diverse tecniche per l'analisi di ciascuna caratteristica di interconnessione e numerose illustrazioni forniscono i risultati delle simulazioni al computer. Gli esercizi stimolanti alla fine di ogni capitolo sono progettati per aiutare gli studenti ad acquisire ulteriori informazioni sul materiale presentato. Le appendici di fine capitolo contengono i codici sorgente di diversi programmi per computer per simulare le interconnessioni VLSI. Un eccellente testo di livello universitario, Interconnessioni VLSI ad alta velocità offre una presentazione chiara e accessibile di informazioni che non sarebbero altrimenti disponibili in forma di libro. In quanto riferimento professionale, è una fonte indispensabile per ricercatori e ingegneri che cercano una comprensione più completa di questo complesso argomento. Sarà inoltre di immenso aiuto ai progettisti di chip nello sviluppo di interconnessioni VLSI con parassiti, diafonia, ritardi e guasti ridotti.
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