Lo schema di questo libro segue da vicino una reale determinazione strutturale. Dopo alcuni materiali introduttivi sulla natura dei raggi X, sul processo di diffrazione e sulla geometria interna dei cristalli, vengono prese in considerazione la selezione e la preparazione di un cristallo. Vengono trattate le tecniche di misurazione dei dati grezzi dei raggi X, oltre alla loro riduzione in una forma utilizzabile. La seconda parte del libro discute sia i metodi tradizionali che quelli nuovi per risolvere il "problema della fase", la principale difficoltà nella determinazione della struttura dei raggi X. La terza parte del libro considera come estrarre il maggior numero di informazioni dai dati e come valutarne l'affidabilità. Infine si discute delle fonti di errore nella pratica e nell'interpretazione. Il volume sarà utile a cristallografi, chimici organici, fisici e analitici e studenti laureati.
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